Rentgenová fluorescenční spektrometrie (XRFS)
Metoda XRFS je
založena na detekci sekundárního záření, které je vyvoláno působením primárního
rentgenového záření (RTG) na analyzovaný vzorek.
Sekundární záření je charakteristické
pro každý prvek, je vyvoláno absorpcí primárního RTG záření o kratší vlnové
délce (vyšší energii) než má absorpční hrana zvolené série určitého prvku,
přičemž dochází k vytržení elektronu z vnitřního orbitalu atomu. Přechodem
elektronů mezi vnitřními elektronovými hladinami na hladiny nižší vzniká RTG
fluorescenční záření.
Budícím zdrojem
je buď primární RTG lampa s vhodnou anodou, nebo sekundární fluorescenční
záření radionuklidů (metoda RRFA). Výběr zdroje závisí
na charakteru vzorku, jeho energie musí ležet nad absorpčními prahy
stanovovaných prvků, aby bylo emitováno charakteristické záření.
Radionuklidové
zdroje - bodové, prstencové
Detekce:
proporcionální počítače, scintilační fotonásobiče, polovodičové detektory
Vzorky: tuhé
vzorky na vhodné podložce - oceli, geologické materiály
Použití XRFS:
Rozbor vzorků je
umožněn přímo v pevné matrici, příznivá je rychlost a multiprvkovost
techniky, nízké meze detekce prvků od atomového čísla 5-Bor (XRFS), vedle
kovových prvků lze stanovit i nekovy P, S, C. Analyzovány jsou sypké i
kompaktní, kovové i nekovové materiály, výjimečně kapaliny.
Další informace
Jaroslava Vávrová
.